Лазерные методы генерации наночастиц SI/SIO2
Научная библиотека 20.03.2017 Комментариев к записи Лазерные методы генерации наночастиц SI/SIO2 нетД.В. Поторочин, Д.В. Саченко, С.В. Бородин // Конференция:IV Всероссийский конгресс молодых ученыхРаздел:Инженерные системы и приборостроение, Рубрика:Фундаментальные основы лазерных микро- и нанотехнологий
Краткое введение, постановка проблемы.
Существенное отличие фундаментальных свойств наночастиц от свойств макроскопических объектов обусловливает громадный научный и практический интерес к их получению, исследованию, а также созданию композитов на их основе. Разработан целый ряд физических, химических, физико- химических и биологических методов синтеза наночастиц, каждый из которых обладает своими достоинствами и недостатками. Импульсная лазерная абляция – это многообещающий метод получения наночастиц различных материалов, который позволяет получать частицы с желаемыми характеристиками, изменяя свойства среды, в которой происходит процесс, или параметры лазерного воздействия. При этом на конечном этапе наночастицы образуются в виде отдельных частиц (ансамблей наночастиц), тонкой плѐнки, состоящей из плотноупакованных частиц, или в виде коллоидного раствора. Основная трудность заключается в сложной процедуре определения требуемых параметров обработки, а также в установлении зависимости характеристик полученных наночастиц от условий воздействия.
Цель работы состоит в экспериментальном исследовании различных лазерных методов генерации наночастиц, а также в изучении влияния параметров лазерного излучателя и условий обработки на характеристики получаемых наночастиц.
Базовые положения исследования. В качестве исследуемого материала был выбран кристаллический кремний из-за его фундаментальной значимости для современной электроники. В качестве источников лазерного излучения были использованы наносекундный Nd:YAG лазер (λ=1064 нм) и фемтосекундный Ti:Sapphire лазер (λ=710- 950 нм). Для сбора наночастиц в случае абляции на воздухе использовалась стеклянная подложка, размещенная на минимальном расстоянии от образца. Полученные образцы исследовались методами атомно-силовой микроскопии и сканирующей электронной микроскопии.
Основной результат. В результате исследований были определены подходящие режимы обработки кремниевых мишеней, получены профилограммы и СЭМ снимки образцов, на основе которых был проведен анализ результатов и предложены методы генерации наночастиц кремния и оксида кремния.
Полное содержание статьи: http://publications.ifmo.ru/file.php?id=2082
Leave a comment
You must be logged in to post a comment.