RAYLASE представляет новую 2-осевую сканаторную систему с очень высокой скоростью отклонения

ИноСМИ, Промышленные лазеры Комментариев к записи RAYLASE представляет новую 2-осевую сканаторную систему с очень высокой скоростью отклонения нет

Благодаря новому 2-осевую сканаторную систему SUPERSCAN IV-15 WAFER RAYLASE GmbH предлагает высокоспециализированное решение для сложных промышленных применений. Целевые применения включают, в частности, структурирование подложек в солнечной промышленности.
Эта специальная версия SUPERSCAN-IV-15 со сверхвысокой скоростью предназначена для удовлетворения высокопроизводительных требований, предъявляемых к изготовлению пластин, где необходима максимальная угловая скорость.

Одним из трендообразующих приложений для SUPERSCAN-IV WAFER является производство фотоэлектрических подложек с использованием инновационной технологии PERC (Passivated Emitter Rear Contact (пассивированныйэмиттер задний контакт)),. Международная технологическая дорожная карта для фотоэлектрики (ITRPV) предсказывает, что к 2025 году эта технология будет иметь глобальную долю рынка более 45%. Подложки PERC состоят из солнечных элементов с пассивированным эмиттером и пассивированной задней стороной. Они способны отражать свет на длинах волн выше 1,180 нм, что приводит к меньшему нагреву ячейки и значительно более высокой эффективности преобразования в полезную энергию.
RAYLASE оптимизировала SUPERSCAN IV-15 специально для этих приложений, чтобы обеспечить высококачественное, но экономичное и производительное производство этих мощных фотоэлектрических подложек PERC. Цифровое управление на основе модели SUPERSCAN IV-15 обеспечивает чрезвычайно высокие скорости до 200 рад / с.

Прочная конструкция с водяным охлаждением мастер-блока позволяет применять лазерную мощность до 2 кВт при использовании кварцевых зеркал. Блок отклонения может управляться цифровым способом как через расширенный протокол XY2-100, так и через протокол SL2-100. Входная апертура составляет 15 мм. Линзы с оптимизированными держателями и зеркалами сканирования доступны для всех стандартных типов лазеров, длин волн, плотности мощности, фокусных расстояний и областей обработки. Также могут быть предоставлены индивидуальные решения.

Перевод: http://www.ailu.org.uk/laser_technology/news/2018-08-23/raylase_230818.html

Рекомендуем для Вас

Leave a comment

You must be logged in to post a comment.


© Интернет журнал "ЛАЗЕРНЫЙ МИР", 2019
Напишите нам:
laser.rf.mail@yandex.ru

Back to Top