Система профилирования BeamCheck ™ для аддитивного производства
Промышленные лазеры 06.06.2017 Комментариев к записи Система профилирования BeamCheck ™ для аддитивного производства нетСистема профилирования лазерного излучения Ophir Photonics BeamCheck ™ разработана специально для измерения критических параметров лазерного луча в лазерных системах аддитивной технологии. Для пространственных измерений используется ПЗС-камера, и для обеспечения полного анализа профилей плотности мощности лазера используется NIST (National Institute of Standards and Technology , USA) прослеживаемый датчик мощности.
Камера BeamCheck расположена на плоскости сборки, чтобы точно определить размер фокусного пятна, мощность лазера и показатели плотности мощности лазера и их изменения с течением времени. Расщепитель луча направляет небольшой процент излучения в камеру, в то время как большая часть луча направлена на встроенный датчик мощности.
Дополнительные функции BeamCheck включают:
• Встроенный датчик мощности от 0,1 до 600 Вт
• для волоконных лазеров; От 1060 до 1080 нм
• Плотность мощности до> 3 МВт / см2
• Размеры пятна от 37 мкм до 3,5 мм
• Несколько кадров в секунду
• Фокусное расстояние от 200 мм до 400 мм
Источник: http://www.ophiropt.com/laser-measurement
Leave a comment
You must be logged in to post a comment.